SRM-640g 是由美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）認(rèn)證的?超高純硅粉X射線粉末衍射（XRD）標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)?，專為?晶體結(jié)構(gòu)分析、儀器校準(zhǔn)與衍射數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化?設(shè)計(jì)，是半導(dǎo)體、光伏、材料科學(xué)領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)?晶格參數(shù)量值溯源與峰形精度控制?的國(guó)際金標(biāo)準(zhǔn)。

該標(biāo)準(zhǔn)品具備?本征基質(zhì)、納米級(jí)均一、氬氣封裝?三大核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

?基質(zhì)特性?：采用德國(guó)Siltronic AG超高純本征硅晶錠，經(jīng)噴射研磨形成中值粒徑4.1 μm的超細(xì)粉末，晶格缺陷密度極低，確保衍射信號(hào)純凈；

?認(rèn)證參數(shù)?：在22.5°C下，晶格參數(shù)認(rèn)證值為 ?0.5431144nm±0.000008nm?（k=2），溯源至國(guó)際單位制（SI）長(zhǎng)度基準(zhǔn)，相對(duì)不確定度≤4.8×10??；

?形態(tài)封裝?：每單位7.5 g，氬氣密封玻璃瓶包裝，徹l底隔絕濕氣與污染，保障長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

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適用檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用場(chǎng)景?：

應(yīng)用領(lǐng)域檢測(cè)技術(shù)         核心用途

半導(dǎo)體制造Bragg-Brentano XRD校準(zhǔn)2θ角與衍射峰半高寬（FWHM），提升晶圓缺陷檢測(cè)精度

光伏材料XRD精修分析驗(yàn)證多晶硅晶粒取向與內(nèi)應(yīng)力，優(yōu)化電池轉(zhuǎn)換效率

材料科研Pawley精修法作為基準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)衍射儀線形模型，支持納米晶粒尺寸計(jì)算

實(shí)驗(yàn)室質(zhì)控XRD系統(tǒng)驗(yàn)證參與CNAS、A2LA能力驗(yàn)證，確保檢測(cè)結(jié)果國(guó)際互認(rèn)

?操作規(guī)范?：

?儲(chǔ)存?：未開封保持原瓶氬氣環(huán)境，置于干燥、避光、室溫（≤30°C）環(huán)境；

?使用前處理?：開瓶后在惰性氣氛下轉(zhuǎn)移樣品，避免暴露于空氣；

?裝樣要求?：采用Bragg-Brentano幾何，確保粉末床堆積密度高、表面平整，推薦裝樣量≥50 mg；

?校準(zhǔn)方法?：結(jié)合基本參數(shù)法（FPA）與Pawley精修，校準(zhǔn)衍射峰位置與寬度，推薦使用Si(111)、(220)、(311)主峰；

?穩(wěn)定性?：認(rèn)證有效期無(wú)限，前提是未受潮、未污染或物理?yè)p傷，每批次附帶NIST官l方COA，含晶格參數(shù)、FWHM信息值及分析方法說(shuō)明。

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